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Max Planck Gesellschaft e.V
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Ausstattung

Ausstattung

Geräteliste

Röntgengeräte

  • SAXS I: NanoStar (Hochfluss-Konfiguration) mit Röntgenröhre, gekreuzte Göbelspiegel und HiStar Vieldrahtprportionalzähler (Bruker AXS)
  • SAXS II: Nanostar (scanning-SAXS Konfiguration) mit Drehanodengenerator, gekreuzte Göbelspiegel und HiStar Vieldrahtprportionalzähler (Bruker AXS)
  • SAXS III: Pinhole Instrument mit Drehanodengenerator (Nonius), Confocal-Max-Flux TM Optik (Osmic) und image plate bzw. MarCCD Flächendetektoren
  • SAXS IV: Kratky camera mit Röntgenröhre und Punktdetektor
  • Pulverdiffraktometer I: D8, q-q Konfiguration mit Röntgenröhre, Göbelspiegel und Sol-X Festkörperdetektor (Bruker AXS)
  • Pulverdiffraktometer II: PDS q-2q Diffraktometer mit Röntgenröhre und 1D 120° Detektor (Nonius)
  • Mikrotomographie: Skyscan-1072, hochauflösendes Mikro-CT Tischgerät (Skyscan)
  • Microfokusbeamline bei BESSY II in Berlin Adlershof (zusammen mit BESSY GmbH and Bundesanstalt für Materialforschung (BAM); 4-30 keV Energiebereich, mehrere Optikvarianten (Bragg-Fresnel Linsen, bimorpher Spiegel, Glaskapillaren) mit 5 mm Strahlgröße bei >10 9 ph/s. Scanning SAXS/WAXS/XRF Messplatz mit MarMOSAIC Flächendetektor (Instrument im Aufbau, geplante Inbetriebnahme Mitte 2005)

Elektronenmikroskopie

  • Feldemissions-Umweltrasterelektronenmikroskop(FE-ESEM) kombiniert mit Kühlbühne und Mikrozugeinheit für Strukturuntersuchungen und in-situ-Tests (Fei)

Lichtmikroskopie

  • Leica DM RXA2 mit CCD Kamera, Auflicht, Durchlicht, Polarisation, Fluoreszenz

Mechanische Prüfung

  • Nanoindenter UB1 (Hysitron)
  • Zwick Universalprüfmaschine
  • MTS Tytron Mikrokraft Prüfsystem
  • Mehrere selbst entwickelte Zugapparaturen für in-situ Experimente mit Synchrotronstrahlung (SAXS/WAXS) sowie im ESEM und im Raman-Mikroskop
  • (Mikrozugmaschinen)

Rapid prototyping

  • 3D Wachsdrucker: Modelmaker 2 (Solidscape)
  • Sterolithographie Maschine, Digital Light Processing: Perfactory Mini ( Envisiontec)

Probenpräparation und Probenbehandlung

  • Logitech Schleif- und Poliermaschine
  • Leica SP1600 Sägemikrotom/Innenlochsäge
  • Isomet Niedertouren Diamantsäge
  • Motorisiertes Rotationsmikrotom Leica RM 2255
  • Inertgasofen (bis 1600°C in Vakuum oder inerter Atmosphäre)
  • Rohrofen (bis 1200°C in Vakuum, Luft oder inerter Atmosphäre)
  • Muffelofen (bis 1200°C in Luft)

Zellkulturen

CO 2 Brutschrank


NANOSTAR: Punktfokus Röntgenklein- und -weitwinkelstreuung mit Flächendetektor

Kategorie: Grossgerät / -experiment

Bezeichnung: NANOSTAR: Punktfokus Röntgenklein- und -weitwinkelstreuung mit Flächendetektor

Beschreibung: Das Gerät wird für Strukturuntersuchungen im Bereich zwischen 0.3 nm und 80 nm eingesetzt, insbesondere für Nanostrukturanalyse (Nanoporosität, Teilchen und Makromoleküle in Festkörpern oder in Lösung) mit Röntgenkleinwinkelstreuung (SAXS), sowie atomare/molekulare Strukturanalyse mit Röntgenweitwinkelstreuung

Ortsaufgelöstes Mapping der Nanostruktur mit Raster-SAXS/WAXS mit 100 mm Ortsauflösung

Ausstattung:
  • Röntgenröhre (Cu-Ka) mit gekreuzter Gradienten Multilayer Optik (Göbelspiegel)
  • Einfach austauschbares Blendensystem für hohen Fluss bzw. für hohe Ortsauflösung
  • Probenkammer mit Platz für bis zu 20 Proben, x-y Rastereinheit und Probenrotation; Operation in Vakuum, Luft oder Inertgas
  • Flächendetektor (Vieldraht Proportionalitätszähler)mit variablem Abstand zur Probe (40 mm - 1050 mm)
  • Computergesteuerte Experimentkontrolle mit hohem Automatisierungsgrad
  • Datenreduktion und elementare Datenauswertesoftware
  • Orientierungsanalyse (Orientierrung und Form von Teilchen und Fasern in Kompositmaterilaien, kristallographische Texturen)
Typ/Hersteller: Bruker AXS
Baujahr: 2004

Bruker AXS



Feldemissions - Umweltrasterelektronenmikroskop

Kategorie: Großgerät/Großexperiment

Bezeichnung: Feldemissions – Umweltrasterelektronenmikroskop

Beschreibung: Digitales Feldemissions - Umweltrasterelektronenmikroskop für Hochvakuum- und Niedervakuumbetrieb (bis 30 Torr). Schottky-Emitter Kathodensystem, Everhart- Thornley Detektor, GSED Sekundärelektronendetektor, LF GSED Detektor (Large Field Detektor), BSE – Detektor, CCD Kamera, Kühlbühne mit Peltier-Element

Typ/Hersteller: Quanta 600 FEG, FEI Europe

Baujahr: 2004

FEI Company


© 2013, Max-Planck-Institut für Kolloid- und Grenzflächenforschung, Potsdam