Elektronenmikroskopie weicher Materie
Übersicht über die EM-Einrichtungen der Abteilung für Nachhaltige und Bio-inspirierte Materialien
Unsere EM-Einrichtungen befinden sich derzeit im Aufbau und werden in Kürze ein Kryo-Transmissionselektronenmikroskop (cryoTEM) und ein Kryo-Ionenstrahl-Rasterelektronenmikroskop (cryoFIB/SEM) beherbergen, die die bestehenden Einrichtungen am MPIKG ergänzen. Diese Einrichtungen sind der strukturellen Charakterisierung strahlungsempfindlicher weicher und biologischer Materialien gewidmet.
(A) Chitin-Mikrofibrillen von Phaeocystis globosa (B) Epidermiszellen der Frucht von Viburnum tinus (C) Elektronenbeugungsdiagramm eines synthetischen Oligosaccharid-Kristalls (E) Rasterelektronenbeugungsdiagramm des Querschnitts einer Chitin-Mikrofibrille (F) Cellulose-Nanokristalle.
Verfügbare Geräte
Transmissionselektronenmikroskopie
JEOL JEM F-200 “Cryo” (verfügbar ab März 2025)
- Kalte Feldemissionskanone
- Kryo-Polschuh für niedrige Eisverunreinigungsrate
- Beschleunigungsspannung: 60, 80, 120 und 200 kV
- TEM-Gitterauflösung bei 200 kV: 0,1 nm
- STEM-Auflösung (HAADF): 0,14 nm
- α-Neigungswinkel: ±80°
- Lochfreie Phasenplatte
- Gatan Metro In-situ-Direktelektronen-Detektor
- JEOL STEM-Detektor
- Gatan Elsa Kryo-Transferhalter (698.ULP) mit α-Neigungswinkel > ±70°
Cryo Focused ion beam / Rasterelektronenmikroskopie
- Volumenbildgebung
- TEM-Lamellenpräparation bei Raum- und Kryotemperatur (Lift-out, auf Gitter)
- Chemische Analysefähigkeit
Rasterelektronenmikroskopie
Tescan Clara Field-emission SEM
- Schottky-Emitter
- Beschleunigungsspannung: 50 V-30 kV
- Everhart-Thornley-Detektor in der Kammer
- BSE-Detektor in der Kammer
- In-Beam-Multidetektor
- EDS-Detektor (in Kürze verfügbar)
- Funktion zur Strahlverlangsamung