Ausstattung

Ausstattung

Großgeräte/Großexperimente

  • Dimension 3100 Kraftmikroskop
  • Kernspinresonanzspektrometer
  • Multimode Kraftmikroskop
  • NANOSTAR
  • Rasterelektronenmikroskop (REM)
  • Transmissionselektronenmikroskop (TEM)

Kernspinresonanzspektrometer
(Typ/Hersteller: DMX 400)

  • Magnet: 9.39 Tesla-Kryomagnet, aktiv geschirmt (ultrashield)
  • Probenkopf BBO Gradientenspule für 5mm tubes
  • Probenkopf BBI Gradientenspule für 5mm tubes
  • Autosampler "Sixpack"
  • Protonenkanal, Lock-/2H-Kanal, BB-Kanal

www.bruker-biospin.de

Multimode Kraftmikroskop
(Typ/Hersteller: Digital Instruments/Veeco Instruments)
Das Gerät wird für Nanostrukturanalysen verwendet: Teilchen und Makromoleküle in Festkörpern oder in Lösung

Ausstattung:

  • Scanner As 130V, Messungen im Bereich zwischen 500 Nanometer bis 100 Mikrometer bei einer maximalen Probengröße von 1,2cm x 1,2cm
  • Scanner As 12V, Messungen im Bereich zwischen 20 Nanometer bis 14,9 Mikrometer bei einer maximalen Probengröße von 1,2cm x 1,2cm

www.veeco-europe.com

NANOSTAR: Punktfokus Röntgenklein- & weitwinkelstreuung mit Flächendetektor
(Typ/Hersteller: Bruker AXS)
Das Gerät wird für Strukturuntersuchungen im Bereich zwischen 0.3 nm und 80 nm eingesetzt, insbesondere für Nanostrukturanalyse (Nanoporosität, Teilchen und Makromoleküle in Festkörpern oder in Lösung) mit Röntgenkleinwinkelstreuung (SAXS), sowie atomare/molekulare Strukturanalyse mit Röntgenweitwinkelstreuung; Ortsaufgelöstes Mapping der Nanostruktur mit Raster-SAXS/WAXS mit 100 mm Ortsauflösung
Ausstattung:

  • Röntgenröhre (Cu-Ka) mit gekreuzter Gradienten Multilayer Optik (Göbelspiegel)
  • Einfach austauschbares Blendensystem für hohen Fluss bzw. für hohe Ortsauflösung
  • Probenkammer mit Platz für bis zu 20 Proben, x-y Rastereinheit und Probenrotation; Operation in Vakuum, Luft oder Inertgas
  • Flächendetektor (Vieldraht Proportionalitätszähler)mit variablem Abstand zur Probe (40 mm - 1050 mm)
  • Computergesteuerte Experimentkontrolle mit hohem Automatisierungsgrad
  • Datenreduktion und elementare Datenauswertesoftware
  • Orientierungsanalyse (Orientierrung und Form von Teilchen und Fasern in Kompositmaterilaien, kristallographische Texturen)

www.bruker-axs.de

Rasterelektronenmikroskop (REM)
(Typ/Hersteller: LEO 1550/LEO GmbH Oberkochen)
Auflösung: 1.0 nm bei 20 kV, 2.0 nm bei 1 kV
Beschleunigungsspannung: 0.1 kV bis 30 kV
Vergrößerung: 20x bis 900kx
(kontinuierlich einstellbar)
Elektronenquelle: Schottky Feld-Emitter
Detektoren: Everhard Thornley Sekundärelektronendetektor, In-Lens Detektor
Vakuum System: zwei-stufige Drehschieberpumpe, Turbomolekularpumpe, Ionen-Getter Pumpe

Transmissionselektronenmikroskop (TEM)
(Typ/Hersteller: EM 912 Omega/Carl-Zeiss Oberkochen)
Auflösung: Punkt: 0.37 nm, Linie: 0.20 nm
Beschleunigungsspannung: 60 kV bis 120 kV
Vergrößerung: 80x bis 500kx (in 38 Stufen)
Elektronenquelle: LaB6
Bildaufnahme: Plattenfilmkamera, CCD-Kamera
Vakuum System: zwei-stufige Drehschieberpumpe,
Turbomolekularpumpe, Ionen-Getter Pumpe

Umweltrasterelektronenmikroskop
(Typ/Hersteller: Quanta 600 FEG, FEI Europe)
Digitales Feldemissions - Umweltrasterelektronenmikroskop für Hochvakuum- und Niedervakuumbetrieb (bis 30 Torr). Schottky-Emitter Kathodensystem, Everhart- Thornley Detektor, GSED Sekundärelektronendetektor, LF GSED Detektor (Large Field Detektor), BSE - Detektor, CCD Kamera, Kühlbühne mit Peltier-Element
www.feicompany.com

 
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